CKT2170型

CKT设计的CKT2170型系列,专用于高密度印刷电路装置的大量互连线路的测试工程。处理的对象如陶瓷基片、芯片载体、多芯片电路板和液晶显示器等。以上照片是测试芯片载体的系统。


CKT2170型系列系统是由一个手动或者自动的产品处理机、探测头和集成型CKT2175测试仪器组成的成套系统。系统的机械部份通常是由产品的形式规格、测试产品的生产要求、测试点的密度性和产品位置调整的要求来决定。CKT2175型测试仪器使用电子标准仪器结构, 其程控开关器的形式是根据特定的装配要求而设计的。


该系统的特点如下:

  • 可编程测试电压最大250伏直流电压

  • 绝缘电阻测量最大100 兆欧

  • 开路测试(电路连续性测试) < 1 欧姆, 使用电流 50 毫安

  • 高处理量,比如检测5,000 测试点的产品,可以在10 秒內完成。其中包括机械处理时间

  • 可以进行单面探测,或者上 / 下两面探测

  • 可互换的测试头

  • 探测间距小至0.008 英寸(200 微米)

  • 多重图象分步重复测试

  • 装有视觉监视装置, 保证精确度和自动产品位置对正调整。